Documentación de Beam Bench

v0.1.12 Actualizaciones del controlador y del raster

Cambios en Beam Bench 0.1.12.

  • Se amplió el manejo de controladores compatibles para que las máquinas identificadas positivamente puedan usar la ruta compartida de controlador adecuada, conservando las comprobaciones existentes de seguridad y capacidades.

  • La exportación SVG ahora conserva las imágenes raster incrustadas en lugar de omitirlas silenciosamente.

  • Se agregó una solicitud opcional basada en consentimiento después de trabajos exitosos para que los usuarios puedan compartir resultados básicos de compatibilidad del controlador sin incluir el diseño del proyecto. El flujo completo está localizado en todos los idiomas compatibles.

  • Se rediseñó la salida raster de GRBL para que los cambios de potencia del láser viajen en línea con el movimiento, el modo del láser se seleccione una vez por segmento raster y las líneas de escaneo ya no detengan el controlador con comandos M4/M5 repetidos. Las pruebas de referencia en escala de grises densa ahora usan aproximadamente la mitad de líneas G-code, y el ciclo de actualización del trabajo activo rellena el búfer serial de GRBL con suficiente rapidez para el uso normal a 115200 baudios.

  • La comprobación previa raster ahora requiere el modo láser de GRBL ($32=1). La planificación usa los límites de velocidad XY y aceleración de la máquina conectada para estimaciones de duración más realistas, advierte sobre velocidades superiores al límite de la máquina y sobre un overscan insuficiente, y tiene en cuenta los perfiles que usan movimientos de overscan a velocidad de grabado.

  • El tiempo restante en vivo ahora cuenta regresivamente desde la duración de movimiento planificada en lugar de tratar todas las líneas G-code como iguales, y excluye el tiempo en pausa. Los totales de previsualización y las posiciones de reproducción usan h:mm:ss para trabajos de más de una hora.

  • Se corrigieron otros casos límite del raster relacionados con la corrección del ancho de punto de derecha a izquierda, la alternancia bidireccional de filas vacías, el relleno por inundación binario, los extremos raster verticales y rotados, la geometría de desplazamiento de la previsualización y las líneas de escaneo corregidas vacías.

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