對焦測試
為支援Z軸移動的活動GRBL配置生成帶標籤的Z高度掃描。
對焦測試會按等間距的Z偏移生成水平線。每條線都標記為Z±n.nn，這樣你可以比較實際效果，並記錄特定機器、鏡頭和材料設定的最佳高度。
開啟時
選單：雷射工具 → 對焦測試...。該對話方塊使用共享的質量測試介面。
相容性和限制
- 預覽需要有效的專案上下文。在材料參考模式下，專案必須設定材料高度。
- 即時走邊和開始需要啟用支援Z軸移動的活動機器配置，以及GRBL連線。
- 僅支援手動Z軸的機器，以及DSP或振鏡連線，無法執行自動即時掃描。
欄位
| 欄位 | 型別 | 說明 |
|---|---|---|
| Z最小值 | 當前顯示單位 | 首個測試的Z偏移。 |
| Z最大值 | 當前顯示單位 | 最後測試的Z偏移。 |
| 速度 | 當前顯示單位和速度時間單位，最低等效值為1 mm/min | 樣線的速度。 |
| 功率 | %，0–100 | 樣線的功率。 |
| 取樣數 | 整數，1–50 | 間隔數。生成器會建立取樣數 + 1條線；預設值9會建立10條線。 |
| Z參考 | 下拉選擇 | 材料（AbsoluteWorkCoord）或當前Z（RelativeTemporary）。 |
| 線長 | 當前顯示單位，最低等效值為1 mm | 每條樣線的長度。 |
| 步進間距 | 當前顯示單位，最低等效值為1 mm | 相鄰線之間的間距。 |
| 打孔標籤 | 切換開關 | 使Z±n.nn標籤的線條呈打孔效果。不會建立刻度標籤。 |
| 材料高度 | 當前顯示單位 | 在材料模式下顯示，並儲存在專案中。在該模式下生成輸出時必需。 |
操作
質量測試介面提供關閉、預覽、走邊、開始和儲存G-code。即時測試期間，開始會變為暫停或繼續，旁邊會顯示停止。
工作流程
- 根據製造商指導或之前的安全測試，為廢料選擇較窄的Z範圍、速度和功率。
- 選擇正確的Z參考，並在需要時提供材料高度。
- 點選預覽，檢查生成的幾何圖形。
- 固定好廢料，點選走邊，確認實際覆蓋範圍。
- 點選開始，全程監督測試。
- 比較標籤，並通過機器的常規對焦流程或配置檔案中的Notes記錄最佳結果。
Beam Bench不會自動儲存或應用最佳對焦偏移量。