フォーカステスト

Z移動をサポートするアクティブなGRBLプロファイル向けに、ラベル付きのZ高さスイープを生成します。

フォーカステストでは、一定間隔のZオフセットで水平線を生成します。各線にはZ±n.nnのラベルが付くため、実際の加工結果を比較し、特定のマシン、レンズ、材料設定に適した最適な高さを記録できます。

開くとき

メニュー：レーザーツール → フォーカステスト...。このダイアログでは共有の品質テストシェルを使用します。

フィールド	種類	注記
Z最小	現在の表示単位	最初にテストするZオフセットです。
Z最大	現在の表示単位	最後にテストするZオフセットです。
速度	現在の表示単位および速度時間単位、1 mm/min相当以上	サンプル線の速度です。
出力	%, 0–100	サンプル線の出力です。
サンプル数	整数、1–50	間隔の数です。生成される線はサンプル数 + 1本で、デフォルトの9では10本になります。
Z基準	選択	材料（`AbsoluteWorkCoord`）または現在のZ（`RelativeTemporary`）です。
線の長さ	現在の表示単位、1 mm相当以上	各サンプル線の長さです。
ステップ間隔	現在の表示単位、1 mm相当以上	隣接する線の間隔です。
穴あきラベル	切り替え	`Z±n.nn`のラベル線を穴あきにします。目盛りラベルは作成しません。
材料高さ	現在の表示単位	材料モードで表示され、プロジェクトに保存されます。このモードで出力するには必須です。

品質テストシェルには、閉じる、プレビュー、フレーム、開始、G-codeを保存が用意されています。ライブテスト中は、開始が一時停止または再開に変わり、その横に停止が表示されます。

Beam Benchは、最適なフォーカスオフセットを自動的に保存または適用しません。